• 無線通信測試設備

    在下方可查找無線通信測試設備 (WCTE) 的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源:展示了使用 TI 高速直接射頻采樣數據轉換器和放大器的設計方法。重點突…
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  • 頻譜分析儀、相位噪聲、噪聲系數

    具備對高性能頻譜分析儀至關重要的高性能高速千兆采樣 ADC、低相位噪聲時鐘合成器及高速放大器的性能。展示了如何使用最新鎖相環 (PLL) 合成器(能夠生成相位噪聲性能行業領先的寬頻…
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  • 電池測試設備

    在下方可查找高密度電池測試設備的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源可解決以下方面的問題:使用具有集成 DAC、ADC 和 Rsense 電阻器的 TI …
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  • 激光測距儀

    在下方可查找激光測距的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源:展示了在您的激光測距設計中實現高性能和高能效的方法。為許多激光測距方法(包括飛行時間、三角測量…
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  • 秤量

    電子秤以某些方式或形式存在于許多工業應用中,而在當今的食品工業中更是隨處可見。電子秤制造商偶爾會開發專用 ASIC 以定制模擬前端的功能,以便獲得最高精確性和穩定性。但是,某些使用…
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  • 示波器 (DSO)

    數字示波器(DSO)的模擬前端通常在饋入高速ADC之前包含了電容器和信號調理(前置放大器,濾波器和PGA)。
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  • 光譜分析

    在下方可查找光譜分析的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源可解決以下方面的設計難題:通過低成本便攜式外形實現高性能測量。使用 DLP 技術優化各種光譜分析…
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  • 電線測試設備(LAN、DSL、電纜)

    在下方可查找 LAN WAN 測試設備的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源顯示了:高性能高速數據采集和任意波形生成的設計技巧。用于高性能模擬前端的信號鏈…
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  • 數據采集 (DAQ)

    在下方可查找數據采集 (DAQ) 系統的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源可解決以下方面的設計難題:最大限度提高系統分辨率和帶寬,同時最大限度減少 AD…
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  • 探頭/有源探頭

    在下方可查找有源探頭的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件):通過使用 TI 的高速低噪聲放大器來解決模擬前端信號鏈設計難題,從而優化設計。展示了如何使用高分辨率多通…
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  • 實驗室直流電源、交流電源、電子負載

    適用于電源隔離式超緊湊型模擬輸出模塊的參考設計
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  • 數字萬用表 (DMM) 和 LCR 表

    DMM測量硬件包括一個模擬前端,它內置有信號調理電路和ADC,可將電現象轉換為數字域,以便進一步處理。 輸入信號調節允許使輸入信號與ADC兼容,包括放大,濾波和限制。
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  • 功率分析儀和儀表(交流/直流)

    集成電路和參考設計有助于創建高精度功率計和功率分析儀,以實現電機,逆變器,電源調節器和電源的精確效率和功率波形分析。
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  • 向量信號:VST、VSA、VSG

    使用高速射頻采樣數據轉換器實現寬帶寬、寬動態范圍系統。展示了如何使用各種高性能放大器和可變增益放大器通過足夠的增益將平衡輸入轉換為差動輸出。重點突出如何使用超低抖動可編程時鐘發生器…
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  • 發生器:脈沖、圖形、任意、波形 AWG

    重點突出在使用高速數字接口(例如 LVDS 和 JESD204B)將 DAC 與 FPGA 相連時的設計限制。提供有關模擬前端布局挑戰的見解,以使用超低抖動時鐘解決方案實現卓越性能…
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  • 阻抗和矢量網絡分析器

    使用高分辨率寬帶寬數據轉換器實現寬動態范圍系統。展示了高性能、低功耗、集成頻率生成。可實現低功耗可編程增益放大,以在 IF 級提供可變增益。展示了如何使用最新鎖相環 (PLL) 合…
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  • LCD 測試設備

    在下方可查找測試液晶顯示器設備的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源顯示了:用于高性能 SAR 數據轉換器、高速放大器和精密放大器的數據采集信號鏈設計方法…
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  • 存儲器和半導體測試設備

    在下方可查找晶圓級、封裝級和電路板級半導體測試設備的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源:介紹了有關如何提高前沿 TI 高性能放大器和精密數據轉換器的性能…
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  • 儀表:實驗室、分析、現場、便攜

    在下方可查找適用于實驗室儀表的集成電路和參考設計(配有原理圖、測試數據和設計文件),這些資源可解決模擬信號鏈、數據處理、通信接口、診斷 監控和電源管理子系統中的各種設計難題。
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